加拿大NEWCON激光测距仪
LRM1500

加拿大NEWCON激光测距仪 LRM1200/1500/1500SPD 系列单筒手持式激光测距仪/测速仪测距望远镜LRM1500激光测距仪采用最新数字电路，可以透过绝大部分玻璃进行测量；自动“最后目标”测量功能，测距望远镜LRM1500 激光测距仪可以穿过树枝、篱笆等稀疏障碍物直接测量后面的目标；自动“雨天”测量模式。

望远镜式激光测距仪LRM1200
LRM1200

加拿大Newcom望远镜式激光测距仪LRM1200 LRM1200加拿大Newcom望远镜式激光测距仪仪器介绍 LRM1200加拿大Newcom望远镜式激光测距仪 /LRM1200加拿大Newcom望远镜式激光测距仪 LRM1200加拿大Newcom望远镜式激光测距仪 的详细介绍 详细说明 详细说明： 激光测距仪 最新数字电路 穿过树枝、 篱笆等稀疏障碍物 雨天”测量模式。

美国美翠微波检测系统
HI-1710

美国美翠微波检测系统 HI1710将二极管检测技术和数字处理技术结合，可以自动扫描微波炉。 交流电源供电，模拟图形显示，数字报警设置，RS232接口进行计算机控制，打印机串口，模拟记录器输出，可选远程探头回零。通过RS232接口，在实验室可以探访测试数据，实现半自动产品检测系统。

泄漏检测仪
HI-1600

检测仪 微波炉泄漏检测仪 HI-1600HI-1600 细节说明 HI1600微波仪可用来检测915MHz和2450MHz的微波泄露，三量程选择，带电池检查和探头检查功能。

泄漏检测仪
HI-1801

美国美翠微波炉泄漏检测仪 测漏仪HI-1801 HI1801为公共安全监察部门和维修工程师检测微波泄露提供了更简单的方法。 单量程1-10 mW/cm2 电池供电，结构紧凑，经久耐用。

微波炉泄漏检测仪
HI-1501

美国美翠微波炉泄漏检测仪 HI1501是HOLADAY公司生产的最通用的微波检漏仪，被美国政府认可用于微波炉的检测，为微波炉生产厂商，服务工程师，管理部门和公共安全监察部门提供方便，快速，准确，高灵敏度的泄露检测，泄露强度超量程不会损坏仪器。测量范围0.1-100 mW/cm2，三量程，电池供电。

美国FLUKE 热像仪TI45
TI45

美国FLUKE 热像仪TI45 Fluke Ti4x 系列产品几乎可完成任何热像测量工作,它配备有一个 160 x 120 探测器, 温度灵敏度高达0.08℃ (NETD),可提供高分辨率图像,即使最细微的温度差别也无法逃脱它的眼睛.该系列产品使用极为方便,设计采用 Windows CE 菜单结构,故障排查功能更为丰富,允许在测量现场进行快速分析.

美国FLUKE 红外热像仪Ti40
Ti40

美国FLUKE 红外热像仪Ti40 红外热像仪Ti40介绍为工程师和专业技术人员的维护和生产工作带来更多选择 Fluke Ti4x 系列产品几乎可完成任何热像测量工作,它配备有一个 160 x 120 探测器,温度灵敏度高达0.08 oC(NETD),可提供高分辨率图像,即使最细微的温度差别也无法逃脱它的眼睛.

美国FLUKE红外热像仪
Ti20

美国FLUKE红外热像仪 红外热像仪Ti20介绍 Ti20热像仪是世界一流的测量和测试设备供应商——福禄克公司红外热成像产品系列的最新产品，它主要为进行红外线预见性维护（PdM）和产品检修的工业维护技术人员而设计，它在提供全面的解决方案的同时还具有非常优惠的价格。

美国FLUKE 热像仪
TI30

美国FLUKE 热像仪 热像仪T130 仪器介绍 Fluke Ti30 预防护和预维护检验(PPM)程序 预防护和预维护检验(PPM)程序可以大大地减少维修和劳动成本，减少零件的库存避免产品损坏和生产损失。使用ThermoView”Ti30热像仪可利用有效预防护技术，来识别导致设备故障的原因。

日本日置红外热成像仪
3460

日本日置红外热成像仪 瞬时测量区域内的温度分布 在画面上表示64格温度分布 测量数据有小型闪光卡记录，电脑分辨

美国Fluke热像仪
Ti20

美国Fluke热像仪 非接触红外 IR 测量技术可瞬间提供热图像以快速确定高温点 ·完全辐射式温度测量可进行详细的温度分析并跟踪关键部件 ·可测量高达 350 ℃ 的温度，适用于广泛的工业应用 ·完整的成像解决方案中包含附件、培训材料以及用于分析、报告和路线安排 的 InsideIR? 软件 ·大号、彩色 LCD 可清晰显示图像，

美国Fluke热像仪Ti4X/Ti5X
Ti4X/Ti5X

美国Fluke热像仪Ti4X/Ti5X Fluke Ti4X型热成像仪拥有完成几乎每种热成像任务所需的各种功能。通过一个160×120检测器和高达0.08℃的温度灵敏度，它们提供了高分辨率图像，甚至极小的温度差也可以观察到。这些仪器通过

美国Fluke 热成像仪
Ti40/Ti45

美国Fluke 热成像仪 Fluke Ti4x 系列产品几乎可完成任何热像测量工作,它配备有一个 160 x 120 探测器,温度灵敏度高达0.08 ºC (NETD),可提供高分辨率图像,即使最细微的温度差别也无法逃脱它的眼睛.该系列产品使用极为方便,设计采用 Windows® CE 菜单结构,故障排查功能更为丰富,允许在测量现场进行快速分析.

美国FLUKE热成像仪Ti50/Ti55
Ti50/Ti55

美国FLUKE热成像仪Ti50/Ti55 预防性维护 – 在电气和机械问题导致设备故障前及时发现问题 能源/电力设施 - 变电站,输电线路和设备的实时分析 过程监控 – 实时监控,确保操作高效安全完成 产品研发 - 对热模式进行量化,从而改进产品设计 电子设计 - 进行深入电路板分析

台湾泰仕温湿度计
TES-1365

台湾泰仕温湿度计 伸缩式感测棒。 资料锁定及相对值比较功能。 双显示LCD含模拟刻度指示。(同时显示温度、湿度) 双读值(%RH及℃/℉)记忆储存容量达15001笔. 露点温度测量。 湿球温度测量。 PC RS-232接口及应用软件。 预约时间自动(激活/关机)储存资料功能。 最大及最小测量值含时间记录。

日本日置温度计
3445

日本日置温度计 ·快速射容易，掌上型，非接触式温度测·快速射容易，掌上型，非接触式温度测量·快速射容易，掌上型，非接触式温度测量快速射容易，掌上型，非接触式温度测量

日本日置温度计
3444

日本日置温度计 对应温度控制、管理的放射温度计 0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度 可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54） 用3909接口卡，实现高效率PC计测 用专用软件（包含于3909），处理/管理数据 因用途可选择的3型号 温度的定期点检用3443

日本日置温度计
3443

日本日置温度计 对应温度控制、管理的放射温度计 0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度 可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54） 用3909接口卡，实现高效率PC计测 用专用软件（包含于3909），处理/管理数据 因用途可选择的3型号 温度的定期点检用3443

日本日置温度计
3418

日本日置温度计 非接触的、轻巧、快速温度测量 无激光标记 50°C ～ 500°C (分辨率1 °C )